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一种列阵式芯片的检测设备及其检测方法，列阵PD芯片的检测方法，包括以下步骤：S1，列阵PD芯片位置检测；S2，列阵PD芯片角度调整；S3，列阵PD芯片偏移量检测；S4，列阵PD芯片偏移量调整：根据所述列阵PD芯片位置检测信息，通过芯片位置调...
该专利属于河北圣昊光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过河北圣昊光电科技有限公司授权不得商用。

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