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本发明公开了一种差分输入ADC的静态性能测试装置及方法，包括：主控模块、信号产生模块和待测模块；其中主控模块包括第一控制器、第二控制器和第三控制器；信号产生模块包括第一DAC、第二DAC；待测模块包括第一DUT、第二DUT、第三DUT和第四...
该专利属于上海泰矽微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海泰矽微电子有限公司授权不得商用。

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