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电子纸阵列基板的检测方法以及检测设备技术
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文档序号:38141806
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本申请涉及一种电子纸阵列基板的检测方法以及检测设备。电子纸阵列基板的检测设备的测试电子纸组件与电子纸阵列基板相对设置。高度控制设备调节测试电子纸组件与电子纸阵列基板间隔预设距离。电子纸阵列基板的第一电极朝向测试电子纸组件,第一电极通过测试端...
该专利属于惠科股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过惠科股份有限公司授权不得商用。
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