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本申请案涉及选择栅极可靠性。一种方法包含确定存储器串的选择栅极的经编程阈值电压，以及基于所述经编程阈值电压向所述选择栅极指派经编程可靠性等级。所述经编程可靠性等级指示热数据、温数据和/或冷数据可编程到所述存储器串。所述方法进一步包含将质量特...
该专利属于美光科技公司所有，仅供学习研究参考，未经过美光科技公司授权不得商用。

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