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本发明涉及MCU芯片检测技术领域，具体公开了一种MCU芯片热阻值检测装置及其系统，用于解决芯片热阻值检测装置出现检测部位出现温度残留，影响到芯片检测准确性的问题。包括检测台，所述检测台上方设置有输送架，其特征在于，还包括输送带，所述输送带设...
该专利属于深圳市旺弘科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市旺弘科技有限公司授权不得商用。

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