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本实用新型属于芯片测试应用技术领域，具体公开了适用于芯片测试的热管散热器手测盖，包括手测盖座、手测盖本体、卡板、芯片放置部、芯片放置部通槽、卡槽、芯片放置部螺孔、芯片压块和热管散热器。本实用新型的适用于芯片测试的热管散热器手测盖的有益效果在...
该专利属于苏州擎星骐骥科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过苏州擎星骐骥科技有限公司授权不得商用。

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