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本发明公开了一种复杂微型件的非接触逆向测量方法，１．将待测量的复杂微型件喷涂显影剂并干燥处理；２．将经过干燥处理的复杂微型件放置于测量装置的涂有不反光黑色涂层的台体上，此时，复杂微型件与测量装置构成一个整体，通过测量机对该整体的三维数据进行...
该专利属于华南理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过华南理工大学授权不得商用。

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