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本发明涉及芯粒测试技术领域，特别涉及一种用于测试芯粒的针卡控制装置、控制系统和控制方法。装置包括：机架、芯粒安装部、针卡安装部、驱动部、绝对式编码器和控制部；其中，控制部的输入端连接绝对式编码器，输出端连接驱动部，控制部用于根据上位机提供的...
该专利属于中诚华隆计算机技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中诚华隆计算机技术有限公司授权不得商用。

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