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本发明公开了半导体激光器VBG耦合过程检测设备，包括底座，所述底座上设置有两个定位单元以及一个透镜夹持单元，底座上还开设有安装槽，安装槽的内部设置有透镜检测单元；其中两个定位单元用于对半导体激光器基座的定位，透镜夹持单元用于对透镜本体的夹取...
该专利属于中久光电产业有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中久光电产业有限公司授权不得商用。

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