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本发明公开了一种存储芯片置乱测试方法、装置、设备及存储介质，涉及存储芯片测试技术领域。所述方法是在获取用于对目标存储芯片进行置乱测试的原始置乱方案后，先针对各根地址输出管脚，根据在置乱真值表中的对应比特值与所有输入地址的对应关系，得到对应的...
该专利属于合肥悦芯半导体科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥悦芯半导体科技有限公司授权不得商用。

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