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本发明涉及辐射测温技术领域，提供一种辐射测温方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据反射光的第一方位角、反射光的第一天顶角以及转换系数，确定第一漫反射比；根据所述第一天顶角、所述转换系数、入射光的第二方位角以及入射光的第二天顶角，确...
该专利属于中国计量科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量科学研究院授权不得商用。

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