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本申请公开了一种工件曲面微裂纹检测装置和方法。该装置包括磁化器，放置于待测工件的曲面上方，包括柔性的双层排线，双层排线包括下层排线和上层排线，下层排线重合地放置在上层排线的下方，下层排线和上层排线均可独立地构成闭合回路，用于在磁化器靠近曲面...
该专利属于武汉华宇一目检测装备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉华宇一目检测装备有限公司授权不得商用。

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