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提供了一种分析使用光学光谱仪的检测器生成的样品光谱的干扰峰的方法。所述干扰峰由不同波长的多个光谱发射产生。所述方法包括基于所述光学光谱仪的预期曲线参数的模型和所述样品峰在所述光学光谱仪的所述检测器上的位置，生成表示所述干扰峰中每个光谱发射的...
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