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本实用新型提供一种光芯片波导模式的测试装置，包括光源、保偏光纤、待测光芯片、放大透镜组件和平面探测器，保偏光纤与光源连接，保偏光纤的光纤出射端与待测光芯片的波导入射端分离并向波导入射端输出高斯光束，待测光芯片的波导出射端的出射光经过放大透镜...
该专利属于珠海光库科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海光库科技股份有限公司授权不得商用。

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