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芯片检测方法和设备、存储介质及电子装置制造方法及图纸
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文档序号:37875640
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本申请实施例提供了一种芯片检测方法和设备、存储介质及电子装置,其中,该方法包括:在目标夹具与待测芯片的一组引脚已经连接的情况下,检测一组引脚之间的阻抗值,得到一组阻抗值;根据一组阻抗值,确定待测芯片的阻抗是否正常;在确定出待测芯片的阻抗正常...
该专利属于苏州浪潮智能科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州浪潮智能科技有限公司授权不得商用。
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