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本发明提供的零火线反接检测方法、装置、MCU及存储介质,涉及电路检测技术领域。所述零火线反接检测方法:读取检测IO口的AD采样值,AD采样值表征待检测硬件电路的电压信号;根据AD采样值,更新第一计数值和第二计数值,第一计数值表征高电平信号的...该专利属于宁波三星医疗电气股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宁波三星医疗电气股份有限公司授权不得商用。
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