零火线反接检测方法、装置、MCU及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供的零火线反接检测方法、装置、MCU及存储介质，涉及电路检测技术领域。所述零火线反接检测方法：读取检测IO口的AD采样值，AD采样值表征待检测硬件电路的电压信号；根据AD采样值，更新第一计数值和第二计数值，第一计数值表征高电平信号的数量，第二计数值表征读取所述AD采样值的次数；根据第一计数值和第二计数值，生成针对待检测硬件电路的零火线检测结果，以根据零火线检测结果获知待检测硬件电路的零火线是否发生反接，从而保证零火线反接检测结果的正确性，避免误检。避免误检。避免误检。

【技术实现步骤摘要】
零火线反接检测方法、装置、MCU及存储介质


[0001]本专利技术涉及电路检测
，具体而言，涉及一种零火线反接检测方法、装置、MCU及存储介质。

技术介绍

[0002]智能电能表的普及和发展日益迅速，由于安装环境、地区的差异，为保障电力公司的权益，电力公司对智能电能表的防窃电的要求也越来越高，如旁路检测、零线火线反接检测等。
[0003]现有的零线火线反接检测方法是MCU(Microcontroller Unit，微控制单元)通过检测IO口读取硬件电路输出的高低电平信号来判定是否反接。理想情况下，当硬件电路输出的周期性的高低电平信号，则可以判定零火线为正常接线，当硬件电路输出为稳定的低电平信号，判定为零火线反接。由于元器件的差异，电能表安装环境的差异，导致在正常接线的情况下，硬件电路也可能输出低电平信号，使得检测结果是错误的。

技术实现思路

[0004]为了保证零火线反接检测结果的正确性，避免误检，本专利技术实施例提供了一种零火线反接检测方法、装置、MCU和存储介质。
[0005]本专利技术实施例的技术方案本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种零火线反接检测方法，其特征在于，应用于MCU，所示MCU上的检测IO口接入待检测硬件电路，所述检测IO口配置为AD模式，所述方法包括：读取所述检测IO口的AD采样值，所述AD采样值表征所述待检测硬件电路的电压信号；根据所述AD采样值，更新第一计数值和第二计数值，所述第一计数值表征高电平信号的数量，所述第二计数值表征读取所述AD采样值的次数；根据所述第一计数值和所述第二计数值，生成针对所述待检测硬件电路的零火线检测结果，以根据所述零火线检测结果获知所述待检测硬件电路的零火线是否发生反接。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述AD采样值，更新第一计数值和第二计数值的步骤包括：若所述AD采样值不小于预设阈值，则对所述第一计数值和所述第二计数值均进行自增操作；若所述AD采样值小于所述预设阈值，则对所述第二计数值进行自增操作。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一计数值和所述第二计数值，生成针对所述待检测硬件电路的零火线检测结果的步骤包括：若所述第二计数值等于第一预设计数阈值，则判断所述第一计数值是否小于第二预设计数阈值；若所述第一计数值不小于所述第二预设计数阈值，则判定针对所述待检测硬件电路的零火线检测结果为零火线正接；若所述第一计数值小于所述第二预设计数阈值，则判定针对所述待检测硬件电路的零火线检测结果为零火线反接。4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一计数值和所述第二计数值，生成针对所述待检测硬件电路的零火线检测结果的步骤还包括：若所述第二计数值效小于第一预设计数阈值，则在间隔预设时间后，返回所述读取所述检测IO口的AD采样值的步骤，直至若所述第二计数值等于第一预设计数阈...

【专利技术属性】
技术研发人员：许大帅，章跃平，
申请(专利权)人：宁波三星医疗电气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：