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一种集成电路模拟测试系统技术方案
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文档序号:37857523
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本发明公开了一种集成电路模拟测试系统,包括:功能测试模块,具有多个测试单元,测试单元包括驱动器,用于执行功能测试;直流测试模块,具有电流输出端子和高阻抗电阻;第一校准单元,设置在多个驱动器和比较器之间;第二校准单元,所述第二校准单元包括根据...
该专利属于江苏润鹏半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过江苏润鹏半导体有限公司授权不得商用。
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