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本申请涉及一种器件近场扫描方法、装置、计算机设备、存储介质。所述方法包括：获取待检测器件的第一扫描区域，并确定第一扫描区域中的多个扫描点；控制磁场探头分别在各扫描点位置进行扫描，获取各扫描点对应的磁场测量参数，磁场测量参数用于表征扫描点位置...该专利属于中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））授权不得商用。