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本发明公开一种基于PAD功能矩阵的集成控制芯片外设自测试方法及装置，所述方法包括：将至少两个待测外设的输入和输出分别与PAD功能矩阵互连，以形成PAD回环；配置所述PAD回环内的PAD数据方向；执行功能测试程序，并读取测试结果。本发明通过P...
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