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本发明涉及一种二极管全动态老化方法,步骤如下:a)、将相应器件连接成回路;b)、MCU芯片接收上位机上各参数,启动直流电源组件以及变压器及调压组件,同时同步控制电路控制可控硅整流器的通断开,使得待测二极管的两端交替加正弦上半波电流源和正弦下...该专利属于杭州高裕电子科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州高裕电子科技股份有限公司授权不得商用。
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本发明涉及一种二极管全动态老化方法,步骤如下:a)、将相应器件连接成回路;b)、MCU芯片接收上位机上各参数,启动直流电源组件以及变压器及调压组件,同时同步控制电路控制可控硅整流器的通断开,使得待测二极管的两端交替加正弦上半波电流源和正弦下...