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本实用新型提供基于半导体芯片封装用辅助检测设备，涉及半导体芯片封装用检测设备技术领域，包括底座，所述底座的主体为矩形结构，且底座的内部前后两侧均开设有横向槽，并且底座中所开设的横向槽用于滑块滑动，解决现有的在进行检测过程中由于人工检测的差异...
该专利属于联测优特半导体(东莞)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过联测优特半导体(东莞)有限公司授权不得商用。

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