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本发明公开一种基于投影迹线的锥束CL系统几何参数敏感度分析方法及装置，该方法包括：根据CL系统几何参数偏差与投影位置的关系，得出双向投影迹线；基于双向投影迹线得到CL系统几何参数的偏差最小单元；以偏差最小单元为评价指标分析各参数偏差敏感度。...
该专利属于中国人民解放军战略支援部队信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军战略支援部队信息工程大学授权不得商用。

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