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本公开提供了一种发光二极管的分选方法，属于光电子技术领域。该分选方法包括：确定晶圆的合格区域和不合格区域，所述合格区域内的不合格芯片的占比低于预设阈值，所述不合格区域内的不合格芯片的占比高于预设阈值；通过剥离针将所述不合格区域内的芯片去除；...
该专利属于华灿光电（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华灿光电（苏州）有限公司授权不得商用。

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