【技术实现步骤摘要】
发光二极管的分选方法
[0001]本公开涉及光电子
，特别涉及一种发光二极管的分选方法、分选装置和分选设备。
技术介绍
[0002]发光二极管(英文：Light Emitting Diode，简称：LED)作为光电子产业中极具影响力的新产品，具有体积小、使用寿命长、颜色丰富多彩、能耗低等特点，广泛应用于照明、显示屏、信号灯、背光源、玩具等领域。
[0003]相关技术中，发光二极管在测试完成后，会根据测试结果将发光二极管划分为合格品或不合格品，再由分选机将合格品挑选到承载膜上出货。
[0004]由于单片晶圆上的发光二极管数量多达40至50万颗，采用传统的方式逐个筛选发光二极管是否合格，会耗费大量时间，降低发光二极管的分选效率。
技术实现思路
[0005]本公开实施例提供了一种发光二极管的分选方法，能缩短晶圆中不合格发光二极管的剔除时间，提升发光二极管的分选效率。所述技术方案如下：
[0006]本公开实施例提供了一种发光二极管的分选方法，所述分选方法包括：确定晶圆的合格区域和不合格区...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种发光二极管的分选方法，其特征在于，所述分选方法包括：确定晶圆的合格区域和不合格区域，所述合格区域内的不合格芯片的占比低于预设阈值，所述不合格区域内的不合格芯片的占比高于预设阈值；通过剥离针将所述不合格区域内的芯片去除；通过顶针顶起所述合格区域内的不合格芯片，并通过吸嘴去除。2.根据权利要求1所述的分选方法，其特征在于，所述剥离针包括：吸管、拨针和吸真空组件，所述拨针位于所述吸管的一端，所述吸管的另一端与所述吸真空组件的抽吸口连通。3.根据权利要求1或2所述的分选方法，其特征在于，所述确定晶圆的合格区域和不合格区域，包括：根据所述晶圆中的芯片的分布，在所述晶圆背面的承载膜上绘制分选图，所述分选图包括第一区域和第二区域，所述晶圆上与所述第一区域相对的区域为所述合格区域，与所述第二区域相对的区域为所述不合格区域。4.根据权利要求3所述的分选方法，其特征在于，所述根据所述晶圆中的芯片的分布，在所述晶圆背面的承载膜上绘制分选图，包括：将所述晶圆远离所述承载膜的一侧置于芯片分布图上，所述芯片分布图用于显示所述晶圆中的所有芯片之间的相对位置，所述所有芯片包括合格芯片和不合格芯片，所述芯片分布图包括第三区域和第四区域，所述第三区域内的不合格芯片的占比低于预设阈值，所述第四区域内的不合格芯片的占比高于预设阈值；在所述承载膜远离所述芯片分布图的一面，透过所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾新宇，陈建南，刘康，王士康，
申请(专利权)人：华灿光电苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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