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本申请公开了一种芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。主要包括测试机主体，安装在测试机主体上的上料组件、测试组件、移印组件、下料组件，测试组件包括有检测块，检测块用于放置待测芯片，检测块上活动连接有两组夹持块，夹持块与检测块之间设置有弹性部，...
该专利属于安徽新芯威半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过安徽新芯威半导体有限公司授权不得商用。

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