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本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种安全芯片嵌入式非易失性存储器擦写寿命测试方法、存储介质以及计算机，所述方法包括明文数据，将明文数据发送给芯片端，所述芯片端对明文数据进行算法加密得到密文数据，且密文数据不符合预期的数据组合；通过开发测...
该专利属于北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司授权不得商用。

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