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本发明一种芯片温度循环老化测试台的基座涉及芯片桌面级高温老化测试技术领域；所述基座包括：基座体、滑槽、正反牙丝杆和丝杆电机；将其用于老化测试台，能够同时测试两个芯片，通过滑座和连接架使加热插座和降温插座交替与两个测试芯片接触，期间加热插座没...
该专利属于法特迪精密科技（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过法特迪精密科技（苏州）有限公司授权不得商用。

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