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偏移检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:37774790
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本申请提供了一种偏移检测方法、装置、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取针对目标部件的参照点云数据和待测点云数据;基于参照点云数据,构建出针对目标部件的参照深度图像;基于待测点云数据,构建出针对目标部件的待测深度图像;确定参照深度图像和待...
该专利属于合肥联宝信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥联宝信息技术有限公司授权不得商用。
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