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本发明公开了一种基于重要边界采样的良率估计方法及系统，所述方法包括：步骤S1：在集成电路工艺参数空间内探索所有可能的失效区域；步骤S2：对每个失效区域建立边界模型，描述每个失效区域的边界；步骤S3：使用生成的边界模型进行重要性抽样，并根据重...
该专利属于深圳国微福芯技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳国微福芯技术有限公司授权不得商用。

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