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内存干扰测试的系统与方法技术方案
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文档序号:3773959
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本发明公开了一种内存干扰测试的系统与方法,内存干扰测试的系统至少包含一内存、一递移单元、一写入单元、一读出单元、及一判别单元。主要藉由递移单元,将待测试的每一个存储区的指向,依序递移至下一个存储区,针对每一个存储区来回写入、判读储存内容,以...
该专利属于英业达股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过英业达股份有限公司授权不得商用。
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