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一种SiC晶圆加工检测工装制造技术
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文档序号:37735294
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本申请涉及晶圆加工技术领域,尤其是涉及一种SiC晶圆加工检测工装,载体组件包括:载体本体,载体本体转动连接于座体上,载体本体具有一平面,平面用于连接待检测晶圆;定位组件,定位组件包括:定位块,定位块具有两组,两组定位块分别位于载体本体的两侧...
该专利属于浙江晶瑞电子材料有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江晶瑞电子材料有限公司授权不得商用。
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