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本发明公开了一种存储组件测试方法和系统、存储介质及电子设备。该方法包括：在接收到主机发送的第一指令的情况下，使用第一指令携带的测试参数进行主设备与待测试从设备的兼容测试；其中，待测试从设备上至少包括：安全数码卡对应的第一存储组件和内嵌式存储...
该专利属于浙江华忆芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江华忆芯科技有限公司授权不得商用。

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