存储组件测试方法和系统、存储介质及电子设备技术方案

本发明专利技术公开了一种存储组件测试方法和系统、存储介质及电子设备。该方法包括：在接收到主机发送的第一指令的情况下，使用第一指令携带的测试参数进行主设备与待测试从设备的兼容测试；其中，待测试从设备上至少包括：安全数码卡对应的第一存储组件和内嵌式存储器对应的第二存储组件；在进行主设备与待测试从设备对应的兼容测试的过程中确定主设备的多个预设目标参数对应的数值集合，以及确定待测试从设备对于多个预设目标参数中每一个参数支持的数值允许范围；根据数值集合和数值允许范围确定主设备与待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件是否兼容。解决了现有技术中对于存储组件与其他设备是否兼容的测试效率较低的问题。率较低的问题。率较低的问题。

【技术实现步骤摘要】
存储组件测试方法和系统、存储介质及电子设备


[0001]本专利技术涉及测试领域，具体而言，涉及一种存储组件测试方法和系统、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]目前TF卡(Trans
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flash Card，一般指Micro SD卡)被广泛应用于各种场合，由于移动设备类型的不同、应用场景的不同，对于TF卡片的兼容性的考验也越来越严峻。
[0003]目前普遍的方式是将卡片插入设备中获取待测从设备的状态信息的测试，需要找到匹配的设备，单次进行操作获取到状态信息的结果，再判断是否达到预期。这种测试方式中单次的测试无法印证出大量的SD卡(Secure Digital Memory Card/SD card，安全数码卡)以及eMMC(Embedded Multi Media Card，内嵌式存储器)兼容性的兼容性能，需要进行大量重复的测试，也无法自动评估出最优兼容性的TF卡、SD卡以及eMMC，需要消耗大量的人力和时间，测试效率低。
[0004]针对现有技术中，对于存储组件与其他设备是否兼容的测试效率较低的问题等问本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储组件测试方法，其特征在于，包括：在接收到主机发送的第一指令的情况下，使用第一指令携带的测试参数进行主设备与待测试从设备的兼容测试；其中，所述待测试从设备上至少包括：安全数码卡对应的第一存储组件和内嵌式存储器对应的第二存储组件，所述主设备为适配从设备的装置；在进行所述主设备与待测试从设备对应的所述兼容测试的过程中确定所述主设备的多个预设目标参数对应的数值集合，以及确定所述待测试从设备对于所述多个预设目标参数中每一个参数支持的数值允许范围；根据所述数值集合和所述数值允许范围确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件是否兼容。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，使用第一指令携带的测试参数进行所述主设备与待测试从设备的兼容测试，包括：通过桥接芯片建立所述主机与待测试从设备的通信连接；其中，所述桥接芯片通过第一目标接口连接主机，所述桥接芯片通过第二目标接口连接所述待测试从设备；所述第一指令用于携带测试参数，所述测试参数至少包括：主设备通信时的传输模式、主设备通信时的信号电压、主设备通信时的信号频率，主设备通信时的采样点；在所述桥接芯片接收到所述主机发送第一指令的情况下，使用第一指令携带的测试参数进行所述主设备与待测试从设备的兼容测试。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述数值集合和所述数值允许范围确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件是否兼容，包括：将所述数值集合和所述数值允许范围上传至协议分析仪；确定所述协议分析仪反馈的所述数值集合对应的目标映射点与所述数值允许范围对应目标映射范围之间的相对位置关系；根据所述相对位置关系确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件是否兼容。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据所述相对位置关系确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件是否兼容，包括：在所述相对位置关系指示所述目标映射点在所述目标映射范围的目标区域中的情况下，确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件的兼容结果为兼容，其中，所述目标区域为所述目标映射范围中的居中范围区域；在所述相对位置关系指示所述目标映射点在所述目标映射范围的目标区域之外，且处于所述目标映射范围之内的情况下，确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件之间的兼容结果为疑似兼容；在所述相对位置关系指示所述目标映射点在所述目标映射范围之外的情况下，确定所述主设备与所述待测试从设备中的第一存储组件和/或第二存储组件的兼容结果为不兼容。...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶丹，付晨阳，洪盈盈，
申请(专利权)人：浙江华忆芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：