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一种晶片结构及其制造方法技术
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文档序号:3770794
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本发明提出了一种晶片结构的制造方法,包括以下步骤:提供一种具有半导体基底、阻挡层和介电层的结构;在上述结构上提供图案化的光阻;以该光阻为光罩层进行蚀刻,形成浅沟槽结构,而后去除该图案化的光阻;沉积第一氧化物层,该第一氧化物层覆盖包括浅沟槽结...
该专利属于和舰科技(苏州)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过和舰科技(苏州)有限公司授权不得商用。
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