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本发明描述了一种用于测试头(18)的接触探针(10)的制造方法，包括以下步骤：提供由导电材料构成的基板(11)；以及
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该专利属于泰克诺探头公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克诺探头公司授权不得商用。

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