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本申请涉及一种有机分子透射谱的测量方法,在利用热辐射光源照射红外透明窗片的过程中,热像仪探测器通过探测红外透明窗片,得到的参考热像图。再利用热辐射光源照射涂抹有待测有机分子的红外透明窗片的过程中,热像仪探测器通过探测涂抹有待测有机分子的红外...该专利属于南京南智先进光电集成技术研究院有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过南京南智先进光电集成技术研究院有限公司授权不得商用。
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