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本发明为一种以太网卡芯片的功能测试系统，属于芯片功能测试领域。本系统包括FPGA、待测以太网卡芯片、上位机；待测以太网卡芯片和上位机均与FPGA连接，待测以太网卡芯片通过RJ
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该专利属于中国电子科技集团公司第五十四研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十四研究所授权不得商用。

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