一种以太网卡芯片的功能测试系统技术方案

技术编号:37703785 阅读:22 留言:0更新日期:2023-06-01 23:51
本发明专利技术为一种以太网卡芯片的功能测试系统,属于芯片功能测试领域。本系统包括FPGA、待测以太网卡芯片、上位机;待测以太网卡芯片和上位机均与FPGA连接,待测以太网卡芯片通过RJ

【技术实现步骤摘要】
一种以太网卡芯片的功能测试系统


[0001]本专利技术属于芯片功能测试领域,特别是指一种以太网卡芯片的功能测试系统。

技术介绍

[0002]网卡芯片,又称网络接口控制器(networkinterfacecontroller,NIC)芯片,是一类集成了TCP/IP协议栈、TCP卸载引擎、以太网MAC和PHY的专用集成电路。其广泛应用于家庭网络设备、串口转以太网、并口转以太网、USB转以太网、GPIO转以太网、安防设备、嵌入式服务器等场景。
[0003]网卡芯片的功能测试,是网卡芯片研制生命周期中的重要一环,用于测试网卡芯片所实现的协议功能,如TCP、UDP、ICMP、ARP等。由于在ATE测试阶段,测试用例无法覆盖网卡芯片真实的应用场景,因此需要设计网卡芯片的典型应用场景,在电路板上进行网卡芯片的功能测试。由于网卡芯片的典型应用场景是MCU与网卡搭配,这种搭配一旦固定,电路板难以再做更改,因而网卡的多种工作模式难以在同一块电路板上完成测试。如果为测试网卡的多种工作模式而增加制作不同款式的电路板,就会造成资源的浪费。r/>
技术实现思路
<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种以太网卡芯片的功能测试系统,其特征在于,包括FPGA、待测以太网卡芯片、上位机;待测以太网卡芯片和上位机均与FPGA连接,待测以太网卡芯片通过RJ

45接口与上位机相连;上位机向待测以太网卡芯片发送数据;FPGA从待测以太网卡芯片中读取数据,并通过待测以太网卡芯片将数据回传给上位机;上位机判断接收的数据与发送的数据是否一致,进而判断待测以太网卡芯片的功能是否正常。2.根据权利要求1所述的一种以太网卡芯片的功能测试系统,其特征在于,所述的FPGA通过内部实例化的高级外设总线接口模块与待测以太网卡芯片实现数据连接,通过内部实例化的异步收发器模块与上位机的RS232接口实现数据连接;所述FPGA从待测以太网卡芯片中读取数据,并通过待测以太网卡芯片将数据回传给上位机,是通过FPGA的软处理器核执行如下程序实现的:第一步,初始化待测以太网卡芯片的配置;第二步,读取待测以太网卡芯...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘文元
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第五十四研究所
类型:发明
国别省市:

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