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一种非易失性存储装置的编程方法，该方法可以通过防止编程不足检验电压的下降来解决编程不足问题，并对操作进行检验。根据本发明的一方面，对所选择的存储单元块进行编程操作。对充电给包括在未选择的存储单元块中的存储单元串的沟道的电荷进行放电。对所选择...
该专利属于海力士半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。

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