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本申请涉及芯片测试技术领域，公开了用于ADC芯片测试的连接器。本申请中包括连接器本体，连接器本体的内部包括有芯片连接板，连接器本体的上表面开设有凹槽，连接器本体的凹槽内部卡接有固定块，固定块的右侧焊接有轴承，轴承的内部表面固定连接有旋转杆，...
该专利属于合肥市华宇半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥市华宇半导体有限公司授权不得商用。

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