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本公开实施例提供一种用于芯片分级的方法、装置、计算机设备及可读存储介质。该方法包括：获取测试芯片的第一针测结果和失效测试结果；根据第一针测结果和失效测试结果，得到测试芯片的测试项的重要性参考值；根据重要性参考值，从测试项中得到候选测试项；获...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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