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本发明涉及一种Mini Led基板的空板测试系统及方法，用于对封装芯片之前的Mini Led基板线路进行导通性测试，其中，空板测试系统包括Mini Led基板、空板测试模块及结果展示单元。本发明采用将控制测试路线的控制单元和待测的Mini ...
该专利属于深圳市鑫达辉软性电路科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市鑫达辉软性电路科技有限公司授权不得商用。

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