温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本申请涉及芯片识别技术领域，公开一种用于芯片标记的方法，包括：获取晶圆内各芯片的芯片检测结果，所述芯片检测结果用于表征芯片是否为良品芯片；根据所述检测结果确定晶圆划片轨迹；将所述晶圆划片轨迹导入划片机，触发所述划片机对所述晶圆进行划片时对非...
该专利属于紫光同芯微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过紫光同芯微电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。