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本申请提供一种静电释放测试的控制方法，该方法用于射频前端芯片，所述射频前端芯片与天线连接，该方法包括：确定所述射频前端芯片中与所述天线接触的至少一个引脚；对于所述至少一个引脚中的每个引脚，控制执行预设次数的静电测试，以得到每个引脚的接触静电...
该专利属于深圳市天珑移动技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市天珑移动技术有限公司授权不得商用。

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