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本发明公开了一种药用蒙脱石的Ｘ射线衍射图谱鉴别标准，其特征在于蒙脱石Ｘ射线衍射图谱的特征谱线在约１．５ｎｍ和约０．４５ｎｍ波长处，图谱中其它杂质峰强度不得高于蒙脱石的第二个特征峰（约０．４５ｎｍ波长处），其中在约０．４０ｎｍ波长处和约０．３...
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