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光掩模对位曝光方法及光掩模组件技术
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文档序号:3762080
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本发明公开了一种光掩模对位曝光方法及光掩模组件。该方法包含利用第一光掩模的第一图案区曝光基板的光致抗蚀剂层,以形成至少一第一曝光区;利用第二光掩模的第二图案区曝光光致抗蚀剂层,以形成第二曝光区;利用第二光掩模的第三图案区曝光光致抗蚀剂层,以...
该专利属于奇美电子股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过奇美电子股份有限公司授权不得商用。
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