下载半导体处理中伴随颗粒污染减轻的电氧化金属移除的技术资料

文档序号:37620525

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在半导体衬底上的电氧化金属移除期间,对具有金属层的衬底施加阳极偏置,并且金属被电化学溶解于电解液中。金属颗粒(例如,当溶解的金属是铜时为铜颗粒)可能在电化学金属移除期间无意中形成于衬底的表面上,并且在后续的半导体处理期间造成缺陷。可通过防止...
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