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涉及半导体集成电路器件及测试其的方法。一种半导体集成电路器件包括：第一芯片，该第一芯片可直接从外部访问；第二芯片，该第二芯片将数据传送到第一芯片并且从第一芯片接收数据；和转接电路，该转接电路设置在第一芯片中并且将从外部装置输入的第一和第二测...
该专利属于恩益禧电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩益禧电子股份有限公司授权不得商用。

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