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半导体器件及其制造方法技术
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文档序号:37612437
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提供了一种半导体器件及其制造方法。根据本发明,半导体器件包括:有源区,其形成在衬底中并且包括平坦表面和孔形凹部;上层插塞,其设置在平坦表面之上;间隔件,其设置在上层插塞之间并提供暴露出孔形凹部的沟槽;下层插塞,其填充孔形凹部;以及掩埋导线,...
该专利属于爱思开海力士有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过爱思开海力士有限公司授权不得商用。
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